32
Н 17
Надежность полупроводниковых устройств
[Текст] : Пер.с англ. - М. : Иностр. лит., 1963. - 426 с. - 1р.58к. р.
УДК
32
621.38
ББК
32.85
Экземпляры всего:
1
Аб.2 (1)
Свободны:
Аб.2 (1)